短波焦平面探測(cè)器的黑體源，積分球光源和光學(xué)器件可以快速的重新配置來進(jìn)行泛光照明模式、聚焦模式、準(zhǔn)直光模式測(cè)試。MTF、串?dāng)_、點(diǎn)掃描和D*測(cè)試是非常和可復(fù)現(xiàn)的。短波焦平面探測(cè)器精密的平臺(tái)結(jié)構(gòu)可以消除多個(gè)測(cè)試設(shè)備的布局和光路準(zhǔn)直帶來的誤差。

　　

　　短波焦平面探測(cè)器用于的聚焦模式測(cè)試：

　　

　　在聚焦模式測(cè)試中，短波焦平面探測(cè)器可以將紅外照射的小孔或靶標(biāo)聚焦在探測(cè)器的某個(gè)像素上面。典型的聚焦模式測(cè)試項(xiàng)包含串?dāng)_,點(diǎn)掃描、調(diào)制傳遞函數(shù)。高溫腔式黑體和低溫面源黑體都可以作為短波焦平面探測(cè)器的紅外光源，積分球光源作為可見光源。

　　

　　短波焦平面探測(cè)器用于的泛光照明模式測(cè)試：

　　

　　在泛光照明模式測(cè)試中，短波焦平面探測(cè)器用未聚焦的面源黑體或高溫腔式黑體輻射線照射探測(cè)器。泛光照明模式測(cè)試項(xiàng)包含響應(yīng)率、噪聲、均勻性、探測(cè)靈敏度、線性度。輻射源的位置是用短波焦平面探測(cè)器帶有刻度的光學(xué)精密軌道和快速可調(diào)的運(yùn)動(dòng)支架來設(shè)定的，以此來達(dá)到準(zhǔn)確控制輻照度的目的。

　　

　　短波焦平面探測(cè)器用于的準(zhǔn)直模式測(cè)試

　　

　　泛光照明模式和聚焦模式是測(cè)試非成像光學(xué)傳感器或系統(tǒng)的。短波焦平面探測(cè)器可以通過加裝平行光管來實(shí)現(xiàn)成像系統(tǒng)的性能測(cè)試，這用溫差面源黑體和靶輪或腔式黑體和光闌經(jīng)過平行光管投射到被測(cè)成像系統(tǒng)。準(zhǔn)直模式測(cè)試項(xiàng)包括系統(tǒng)級(jí)的調(diào)制傳遞函數(shù)、信號(hào)傳遞函數(shù)、噪聲等效溫差和小可分辨溫差等，使用準(zhǔn)直模式下的短波焦平面探測(cè)器可以省去購(gòu)買獨(dú)立的紅外目標(biāo)模擬器的費(fèi)用。